| Titel | Bestimmung von Adhäsionskräften mit dem Rasterkraftmikroskop |
| Autor | C. Marwitz, H. Kloß |
| Infos zum Autor | Dr. sc. nat. Heinz Kloß Unter den Eichen 44-46 12203 Berlin Telefon: +49 30 8104-1814 Telefax: +49 30 8104-1817 E-Mail: heinz.kloss@bam.de Dipl.-Phys. Christian Marwitz Unter den Eichen 44-46 12203 Berlin Telefon: +49 30 8104-3591 Telefax: +49 30 8104-1817 E-Mail: christian.marwitz@bam.de |
| Inhalt | Zusammenfassung Adhäsion und Deformation sind wesentliche Grundmechanismen der Reibung. Deren Verständnis ist daher von grundlegender Bedeutung für die Tribologie und den damit verbundenen Technologien. Mit der Miniaturisierung in der Mikrosystemtechnik und damit für Oberflächenbereiche bis zu wenigen Nanometern haben Adhäsionskräfte einen großen Einfluss auf die Funktionalität von Baugruppen und deren Reibverhalten. Es werden die Adhäsionskräfte mit einem Rasterkraftmikroskop (AFM) und definierten Kontakt- und Umgebungsbedingungen (Kugel- Ebene-Geometrie, kristallographische Orientierung der Probenoberflächen, ermittelte Oberflächenrauheiten, UHV-Umgebung) gemessenen, sowie mit existierenden Adhäsionsmodellen verglichen. Unter Berücksichtigung von Rauheiten lassen sich Modelle und Messungen in Einklang bringen. Abstract Adhesion and deformation are essential basic mechanisms of friction. Hence, their understanding is of fundamental importance for tribology and linked technologies. Adhesive forces have a large influence on microtechnology and on the functionality of assemblies with surface areas up to few nanometers. Adhesive forces are measured with an atomic force microscope (AFM) on defined contact with defined environmental conditions (sphere plane contact geometry, single crystal orientation, ascertained surface roughness, UHV condition). The results of these measurements will be compared to predictions of existing adhesive models. |
| Datum | 2010 |
