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Unter tribologischer Belastung bilden sich an der Oberfläche zweier Reibpartner Grenzschichten aus, welche Auswirkungen auf das Reibverhalten und das Basismaterial haben um zum Beispiel Korrosion zu verhindern. Um Informationen darüber zu erhalten, wie diese Schichten aufgebaut sind, braucht man oberflächensensitive Analyseverfahren. Die ToF-SIMS (Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry) eignet sich um die obersten Monolagen einer Oberfläche zu untersuchen und ist somit ideal dazu geeignet, um diese Grenzschichten hinsichtlich ihres Aufbaus zu analysieren. Dabei werden Primärionen mit 25 kV auf die zu untersuchende Oberfläche beschleunigt und lösen aus dieser unter anderem Atome, Moleküle und Molekülfragmente aus. Sind diese elektrisch geladen, spricht man von Sekundärionen, welche durch ein elektrisches Feld beschleunigt werden und nach ihrem Masse zu Ladungs-Verhältnis sortiert detektiert werden können. Damit ist es möglich die Oberfläche und damit Schichten, die durch tribologische Belastung entstanden sind, abzubilden und die chemische Zusammensetzung zu untersuchen. |
